密封继电器检漏

   密封继电器的检漏

   军用密封继电器的漏率检测主要依据是GJB 360A - 96的112实验程序。在GJB 360A - 96的112实验程序中明确规定了密封继电器的检漏条件及步骤。

     背压法检漏最早于1956年开始研究使用,后来在电子元件的密封性能检验中广泛应用。背压法检漏主要适用于小型全密封工件,如继电器等。继电器的背压检漏法一般分为三步:

　　①加氦压:将被检继电器放入充氦的压力罐中;按照GJB 360A- 96规定计算内腔体积,选择适当的加压压力和加压时间,若继电器有漏,则高压氦气被压入继电器内腔。

　　②净化:从压力罐中取出继电器,用氮气流或空气流吹净继电器表面吸附的氦气。

　　③检漏:将继电器放入氦质谱检漏仪的检漏盒中进行检测(检测之前,检漏仪的各项技术指标已调到最佳工作状态) ,若继电器有漏,压入内腔的氦气会经漏孔进入检漏仪,仪器上会有漏率显示

  继电器背压法检漏的漏率计算

　　在背压法检漏中,继电器的真实漏率称为等效标准漏率,以L 表示;从检漏仪上直读出的漏率称为测量漏率,以R 表示。由于加压的压力、加压时间、继电器内腔体积、侯检时间不一样,同一漏孔的测量漏率R1也会不一样。R1与L 之间有如下的关系:

R1=2.68LpE/p0 ·[1 - ( e- 2. 68L t1 /Vp0 ) ]·e- 2. 68L t2 /Vp0(1)

式中

R1为测量漏率, Pa·m3 / s; 

L 为等效标准漏率,Pa·m3 / s;

pE为加压压力, 

Pa; p0为大气压力, 10万 Pa; 

V 为工件内腔容积,m3 ;

t1为加压时间, s; 

t2为侯检时间, s

从公式(1)中我们可以看出从检漏仪上直读出的漏率R1不是继电器的真实漏率,要想得到继电器的真实漏率L ,必须按照公式(1)进行计算。我们应以L 的大小作为判定继电器密封性能合格与否的依据。